[发明专利]光学组件、用于检测光学组件对位的方法以及电子设备

说明书

本发明公开了一种光学组件、用于检测光学组件对位的方法以及电子设备，光学组件包括：第一光学元件以及第二光学元件，第一光学元件具有第一对位结构，第一对位结构具有凹凸纹路；第二光学元件具有第二对位结构，第二光学元件与第一光学元件相对，且第二对位结构与第一对位结构相对。根据本发明的光学组件，可通过激光照射第一对位结构以及第二对位结构的区域，以呈现出不同的图形。第一对位结构与第二对位结构的相对位置不同，呈现出图形不同，进而可以通过呈现的图形来检测第一光学元件与第二光学元件是否对准以及对准的程度，简单且便捷。同时，可便于根据呈现的图形来调整第一光学元件和第二光学元件的相对位置。

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域，尤其是涉及一种光学组件、用于检测光学组件对位的方法以及电子设备。

背景技术

相关技术中，当两个或多个光学元件需要对准时，通常可以使用机械定位对准，或使用高倍显微镜对准标记。机械定位只能简单对准，精度不够。高倍显微镜对准标记通常需要昂贵的设备投资，且不利于随时随地检测实际成品对位效果。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出了一种光学组件，检测所述光学组件的光学元件的对位情况简单便捷。

本发明还提出了一种用于检测光学组件对位的方法，所述光学组件为如上所述光学组件。

本发明还提出了一种电子设备，包括所述光学组件。

根据本发明实施例的光学组件，包括第一光学元件，所述第一光学元件具有第一对位结构，所述第一对位结构具有凹凸纹路；以及第二光学元件，所述第二光学元件具有第二对位结构，所述第二光学元件与所述第一光学元件相对，且所述第二对位结构与所述第一对位结构相对。

根据本发明实施例的光学组件，可通过激光照射第一对位结构以及第二对位结构的区域，以呈现出不同的图形。第一对位结构与第二对位结构的相对位置不同，呈现出图形不同，进而可以通过呈现的图形来检测第一光学元件与第二光学元件是否对准以及对准的程度，简单且便捷。同时，便于根据呈现的图形来调整第一光学元件和第二光学元件的相对位置。

在一些示例中，所述第一对位结构包括：位于中心的圆柱凸起，多个圆环形凸起，从所述圆柱凸起的径向内侧到径向外侧的方向上，多个所述圆环形凸起依次外套于所述圆柱凸起，且所述圆柱凸起与多个圆环形凸起同轴设置，加工方便的同时，可以便于观察识别呈现的图形，提高光学元件的对位的精度。

在一些示例中，激光适于穿过所述第一对位结构，所述激光的光波长为w，所述第一对位结构处的折射率为n₁，空气折射率为n₀，则，h＝w/[2*(n₁-n₀)]，所述圆柱凸起与所述圆环形凸起的凸起高度均为H，H的取值范围为0.5h-1.5h。如此，可以易于加工，同时可使得呈现的图形清晰便于观察识别，满足光学组件的对位精度的需求。

在一些示例中，任意相邻的两个所述圆环形凸起之间的距离相等，和/或所述多个圆环形凸起的外径与内径的差值均相等，以使得呈现图形简单，且易于观察，同时，便于加工。

在一些示例中，任意相邻的两个所述圆环形凸起之间距离为D₁，D₁的取值范围为0.2um-10um。如此，可以易于加工，同时可使得呈现的图案清晰便于观察识别，满足对位精度的需求。

在一些示例中，所述第一光学元件和所述第二光学元件之间的垂直距离为D₂，D₂的取值范围为0＜D₂≤100D₁。满足了光学组件的小型化的设置的同时，可以便于激光的照射，满足光学组件的对准精度的需求。