[发明专利]存储芯片物理销毁判断方法、电路、装置、介质及设备在审
| 申请号： | 202010674773.3 | 申请日： | 2020-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN111933203A | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 吴礼优;李振华 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14;G11C16/30 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 郑昱 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片物理销毁判断方法、电路、装置、介质及设备，该存储芯片物理销毁判断方法包括：接收物理销毁信号，启动销毁电源；实时检测分压电路的实时电压，销毁电源连接于分压电路的两端；判断实时电压的电压变化是否大于阈值，若是，则停止对当前存储芯片的物理销毁。本发明在进行高压物理销毁时，能智能调节销毁电压的输出时间，达到销毁完全且节省电能的目的，以高效且彻底的销毁存储芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 物理 销毁 判断 方法 电路 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
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