[发明专利]一种具有低阻N型电子通道的超结SOI-LDMOS器件在审

专利信息
申请号: 202010657905.1 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111755523A 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 陈伟中;黄元熙;黄垚;李顺;黄义;张红升 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种具有低阻N型电子通道的超结SOI‑LDMOS器件,属于半导体技术领域。该器件包括源极接触区、栅源隔离氧化层、栅氧化层、栅极接触区、场氧化层、漏极接触区、源极P+区、源极、漏极、P‑body、N型漂移区、埋氧层、衬底、低阻N型电子通道和超结区;低阻N型电子通道左边紧邻P‑body右侧上部,右边靠近漏极的左侧,上方从左至右依次靠近栅氧化层下方的右侧部分和场氧化层的下方,下方与超结区接壤;超结区左侧紧邻P‑body右侧下部,右侧紧邻N型漂移区,下方紧邻埋氧层。本发明在提高漂移区浓度,降低Ron,sp的同时,还能增加击穿电压。
搜索关键词: 一种 具有 电子 通道 soi ldmos 器件
【主权项】:
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