[发明专利]基于KL散度的FPGA离线量化方法有效

专利信息
申请号: 202010652930.0 申请日: 2020-07-08
公开(公告)号: CN111814676B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 王典 申请(专利权)人: 上海雪湖科技有限公司
主分类号: G06N3/0495 分类号: G06N3/0495;G06N3/0464;G06N3/063;G06V10/82;G06V10/94
代理公司: 上海浙晟知识产权代理事务所(普通合伙) 31345 代理人: 杨小双
地址: 200050 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及到FPGA离线量化技术领域,尤其涉及到一种基于KL散度的FPGA离线量化方法,包括导入模型,模型导入之后需要对模型进行解析以提取和合并网络的层结构,获取需要量化的层输出、权重节点名称;将图像数据进行数据预处理,并作为输入进行数据量化,同时结合层输出、权重节点名称获取量化的层输出、权重数据;对所述的权重数据求最大最小值、量化缩放尺度和量化零点;最后通过KL散度求截断数据阈值,求出量化缩放尺度和量化零点。本发明通过KL散度对原始输出数据量化范围进行截断,避免分布较为稀疏点对量化精度的影响,采用KL散度进行度量,确定不同量化区间的信息损失,确定信息损失最小的数据范围进行量化。
搜索关键词: 基于 kl fpga 离线 量化 方法
【主权项】:
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