[发明专利]一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法有效
| 申请号： | 202010624957.9 | 申请日： | 2020-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN111561883B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 郑伟峰;蒋淑恋;郑鹏;邓水发;纪金龙;康品春;阮育娇 | 申请（专利权）人： | 厦门市计量检定测试院 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 张鹏 |
| 地址： | 361000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光学镜片检测技术领域，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法，包括机架，通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏光 测量 装置 校正 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门市计量检定测试院，未经厦门市计量检定测试院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010624957.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
