[发明专利]一种D触发器的测试电路及其测试方法在审
申请号: | 202010624254.6 | 申请日: | 2020-07-01 |
公开(公告)号: | CN113884865A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 王旺;林殷茵 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185;G01R31/317;G01R31/3183 |
代理公司: | 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 | 代理人: | 吴桂琴 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于数字集成电路技术领域,涉及一种D触发器的测试电路及其测试方法。本发明的测试电路用于测试数字集成电路中D触发器的时序信息,其包括延时产生模块、振荡器电路以及路径选择器;其中,延时产生模块包括第一延时路径和第二延时路径,第一延时路径和第二延时路径可被动态地配置以使其输出的第一输出信号和第二输出信号之间具有可变的延时差;路径选择器用于将相应配置下的第一延时路径和第二延时路径分别接入振荡器电路,以至于分别地形成第一振荡环路和第二振荡环路。本发明的测试电路和测试方法可以消除了测试电路自身的互连线延时和工艺波动对测试结果影响,测试精确度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 触发器 测试 电路 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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