[发明专利]一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法在审

专利信息
申请号: 202010593839.6 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN111798902A 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 裴永航;高美洲 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: G11C16/08 分类号: G11C16/08;G11C16/26;G11C29/42;G06F11/10
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 赵玉凤
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法,通过读取目标页面相邻的存储器单元的数据,根据离线训练获得的相邻存储器单元对其电荷保持干扰影响,对目标页面数据的软信息进行修正,提高软信息的准确性,获得更高的纠错性能。对于提高电荷俘获型3D NAND闪存的性能、寿命和稳定性,同时减少占用资源和延迟时间,有重要的意义。
搜索关键词: 一种 获得 电荷 俘获 nand 闪存 信息 方法
【主权项】:
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