[发明专利]一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法

说明书

本发明公开一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法，通过读取目标页面相邻的存储器单元的数据，根据离线训练获得的相邻存储器单元对其电荷保持干扰影响，对目标页面数据的软信息进行修正，提高软信息的准确性，获得更高的纠错性能。对于提高电荷俘获型3D NAND闪存的性能、寿命和稳定性，同时减少占用资源和延迟时间，有重要的意义。

技术领域

本发明涉及NAND闪存技术领域，具体的说，是一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法。

背景技术

NAND闪存存储器由于具有存储密度高、容量大、成本低、存取速度快等优点，占据着存储市场越来越多的市场份额。为了保证器件的可靠性和可缩小性，NAND闪存的存储结构由平面（2D）升级为三维（3D），器件结构由浮栅型改为电荷俘获型，电荷俘获型3D NAND已被三星、凯侠和西部数据等广泛采用。

但是，随着闪存的工艺尺寸不断缩小，3D NAND层数的不断增加，NAND 闪存的数据误码率还是不断增大，需要更好的纠错算法。低密度奇偶校验码(Low- Density- Parity-Check Code, LDPC)码因其接近香农限的优良性能和低译码复杂度近年来引起人们的大量研究，现已成为主流纠错算法，在 NAND 闪存上作大规模应用，降低 NAND 闪存不断增大的数据误码率，保障数据的可靠性。

LDPC 码纠错可分为硬判决译码和软判决译码两种。硬判决译码耗时更短，速度更快，但发挥LDPC全部纠错性能需要更为强大的LDPC软判决译码。在 AWGN 信道中，软判决译码比硬判决译码要多 2-3dB 的软判决增益。但NAND 闪存控制器只能从NAND 闪存芯片的标准接口中读取到‘0’和‘1’构成的离散信息，无法直接为 LDPC 提供其所需要的软信息。从NAND闪存中获得LDPC软判决译码的软信息，提高软信息的准确性，进行软判决译码。成为提高LDPC纠错能力和提高NAND 闪存控制器性能的关键。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法，通过读取目标页面相邻的存储单元的数据，对目标页面数据的软信息进行修正，提高软信息的准确性，获得更高的LDPC软判决译码纠错性能。

为了解决所述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种获得电荷俘获型3D NAND闪存软信息的方法，包括以下步骤：S01）、根据不同的硬解码电压进行I次硬读取、I次硬解码，I为正整数，获取硬解码结果，如果存在一次硬解码成功，返回读取成功，否则，进入下一步；S02）、根据不同的软解码电压进行J次软读取，根据读取结果生成软信息序列P₀[n]，进行LDPC软解码，如果软解码成功，返回读取成功，否则，进入下一步；S03）、读取上下相邻存储单元的cell信息，结合步骤S02中的N次读取数据，生成软信息序列P₁[n]，进行LDPC软解码，如果解码成功，返回读取成功，否则返回读取失败。

进一步的，J次软读取得到的结果为Z_soft_0[n]、Z_soft_1[n]、Z_soft_2[n]……Z_soft_(J-1)[n]，读取的上下相邻存储单元的cell信息为Q_neibor[n]，通过offlineNAND测试统计得到表1、表2，表1为Z_soft_0[n]、Z_soft_1[n]、Z_soft_2[n]……Z_soft_(J-1)[n]与P0[n]的映射关系表，表2为Z_soft_0[n]、Z_soft_1[n]、Z_soft_2[n]……Z_soft_(J-1)[n]、Q_neibor[n]与P1[n]的映射关系表，通过查表确定软信息序列P0[n]、P1[n]。

进一步的，软信息序列为4bit精度时，P0[n]、P1[n]的取值区间为[-7,-6,-5,……,5,6,7]。

进一步的，软信息序列为5bit精度时，P0[n]、P1[n]的取值区间为[-15,-14,-13,……13,14,15]。