[发明专利]测量装置、光刻装置和制造物品的方法在审
申请号: | 202010592420.9 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN112130430A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 古卷贵光;中村忠央 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/00;G01B11/00 |
代理公司: | 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 | 代理人: | 迟军;高华丽 |
地址: | 日本东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种测量装置、光刻装置和制造物品的方法。所述测量装置测量包括第一标记和第二标记的被检体的位置,并且包括:摄像单元,其被构造为在视场中包含第一标记和第二标记的状态下拍摄第一标记和第二标记;以及偏振元件,其被构造为在入射到摄像单元上的来自第一标记的光和来自第二标记的光中产生彼此不同的偏振方向。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 光刻 制造 物品 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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