[发明专利]测试用例、规则生成、芯片测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202010592012.3 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN111752839A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 金罗军;张梦娟;安世民 | 申请（专利权）人： | 北京灵汐科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 100080 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种测试用例、测试用例规则的生成、芯片测试方法、装置、设备及介质。测试用例的生成方法包括：根据与待测芯片匹配的原始用例规则库，生成多条备选测试用例；调用golden系统提供的至少一项标准运算算子执行各所述备选测试用例，并获取各所述备选测试用例的执行结果；根据所述执行结果，将各所述备选测试用例划分为正常测试用例集以及异常测试用例集。本发明实施例的技术方案能够快速、准确、自动化的生成符合测试需求的测试用例。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 规则 生成 芯片 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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