[发明专利]测试用例、规则生成、芯片测试方法、装置、设备及介质

说明书

本发明实施例公开了一种测试用例、测试用例规则的生成、芯片测试方法、装置、设备及介质。测试用例的生成方法包括：根据与待测芯片匹配的原始用例规则库，生成多条备选测试用例；调用golden系统提供的至少一项标准运算算子执行各所述备选测试用例，并获取各所述备选测试用例的执行结果；根据所述执行结果，将各所述备选测试用例划分为正常测试用例集以及异常测试用例集。本发明实施例的技术方案能够快速、准确、自动化的生成符合测试需求的测试用例。

技术领域

本发明实施例涉及测试技术，尤其涉及一种测试用例、测试用例规则的生成、芯片测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

测试用例是为某个特殊目标而编制的一组测试输入、执行条件以及预期结果，用于核实某一个待测系统(例如，应用程序或者数据处理芯片等)是否满足某个特定的数据处理需求。测试用例一般包括正常测试用例或者异常测试用例。正常测试用例为预期结果为正常执行的测试用例，异常测试用例为预期结果为产生异常错误的测试用例。

无论是正常测试用例，还是异常测试用例，一般都是由有经验的测试人员人工设计得到，测试人员需要彻底理解待测系统的各个功能模块或者实现机制，才能编写出满足条件的测试用例。

发明人在实现本发明的过程中，发现现有技术存在如下缺陷：测试用例需要经验丰富的测试人员深度了解待测系统后才能人工生成，对测试人员的要求高、实现成本高，且需要耗费大量的时间。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试用例、测试用例规则的生成、芯片测试方法、装置、设备及介质，以快速、准确、自动化的生成符合测试需求的测试用例。

第一方面，本发明实施例提供了一种测试用例的生成方法，该测试用例的生成方法，包括：

根据与待测芯片匹配的原始用例规则库，生成多条备选测试用例；

调用golden系统提供的至少一项标准运算算子以执行各备选测试用例，并获取各备选测试用例的执行结果；

根据执行结果，将各备选测试用例划分为正常测试用例集以及异常测试用例集。

第二方面，本发明实施例还提供了一种测试用例规则的生成方法，该测试用例规则的生成方法，包括：

根据与待测芯片匹配的原始用例规则库，生成多条备选测试用例；

调用golden系统提供的至少一项标准运算算子以执行各备选测试用例，并获取各备选测试用例的执行结果；

根据执行结果，将各备选测试用例划分为正常测试用例集以及异常测试用例集；

根据正常测试用例集，和/或异常测试用例集，生成正常用例规则库和异常用例规则库。

第三方面，本发明实施例还提供了一种芯片测试方法，该芯片测试方法，包括：

获取目标测试用例；

调用golden系统提供的至少一项标准运算算子以执行目标测试用例，并获取目标测试用例的第一执行结果；

调用待测芯片包括的至少一项硬件执行单元执行目标测试用例，并获取目标测试用例的第二执行结果；

如果第一执行结果和第二执行结果不一致，则确定待测芯片未通过测试。

第四方面，本发明实施例还提供了一种测试用例的生成装置，该测试用例的生成装置，包括：

备选测试用例生成模块，用于根据与待测芯片匹配的原始用例规则库，生成多条备选测试用例；

执行结果获取模块，用于调用golden系统提供的至少一项标准运算算子以执行各备选测试用例，并获取各备选测试用例的执行结果；