[发明专利]一种提取GaN HEMT晶体管动态串联电阻的方法在审

专利信息
申请号: 202010585876.2 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN111707870A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 何进;何燕冬;魏益群;李春来;胡国庆;何箫梦 申请(专利权)人: 深港产学研基地(北京大学香港科技大学深圳研修院);北京大学深圳研究院
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R31/26
代理公司: 南昌丰择知识产权代理事务所(普通合伙) 36137 代理人: 刘小平
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种提取GaN HEMT晶体管动态串联电阻的方法,在直流和脉冲测试条件下,通过提出的方法,可以在不同的偏置和电压‑电流条件下直接提取GaN HEMT晶体管动态串联栅源电阻RS和栅漏串联电阻RD及其变化,从而理解和分析GaN HEMT器件大电流情形导致的电流崩塌效应,热效应和沟道表面损伤产生的栅源‑栅漏表面态特征,这些参数和信息有助优化GaN HEMT的器件及电路设计和改善工作条件。
搜索关键词: 一种 提取 gan hemt 晶体管 动态 串联 电阻 方法
【主权项】:
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