[发明专利]一种霍尔芯片老化测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202010581126.8 | 申请日： | 2020-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN111665433A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 张文伟;宋瑞潮 | 申请（专利权）人： | 西安中科阿尔法电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R33/07;G01R35/00 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 燕肇琪 |
| 地址： | 710100 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种霍尔芯片老化测试装置，包括底座，底座上固定有一个或多个老化测试体；老化测试体包括同轴设置且可拆卸的第一线圈架和第二线圈架，第一线圈架上缠绕有第一线圈，第二线圈架中缠绕有第二线圈，第一线圈与第二线圈的引线焊接成为一条线缠绕的线圈，第一线圈与第二线圈的绕向相同，第一线圈架和第二线圈架之间放置有PCB引脚放大板；每个老化测试体的线圈均与一根集成总线连接，每个老化测试体的PCB引脚放大板上的放大端均通过另一根集成总线引出；本发明还公开一种霍尔芯片老化测试方法。本发明解决了现有技术中存在的老化测试难以批量实现的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 霍尔 芯片 老化 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安中科阿尔法电子科技有限公司，未经西安中科阿尔法电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010581126.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
