[发明专利]失效数据修复电路和方法、非挥发性存储器、可读存储介质在审
| 申请号： | 202010576095.7 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN111755060A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 洪亮 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/26 | 分类号： | G11C16/26;G11C29/44 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 201315*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种失效数据修复电路和方法、非挥发性存储器、可读存储介质，所述失效数据修复电路和方法通过所述读出结果处理单元比较所述第一读出结果以及所述第二读出结果判断所述非挥发性存储器是否出现数据保持失效故障，所述主控制单元在所述非挥发性存储器出现数据保持失效故障时，驱动存储器电流放大单元和或偏置电压生成单元，利用所述存储器电流放大单元对所述存储单元电流进行放大和或利用所述偏置电压生成单元输出偏置电压给所述非挥发性存储器的存储单元栅极，能够将原先失效的读出窗口修复到所述非挥发性存储器的读出电路可以分辨的读出窗口，并且可得出准确的读出数据。 | ||
| 搜索关键词： | 失效 数据 修复 电路 方法 挥发性 存储器 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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