[发明专利]基于Gamma校正的色坐标测量方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010566996.8 申请日: 2020-06-19
公开(公告)号: CN111458112B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 洪志坤;张胜森;欧昌东;郑增强 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J3/46
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 张凯
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于Gamma校正的色坐标测量方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:获取基于Gamma校正得到的待测显示面板分别显示N张测试图片时,每张测试图片的目标位置点的色坐标,N为大于或等于3的正整数;获取每张测试图片中每个位置点在多通道相机的每个光谱通道下的光强度值;根据每张测试图片的目标位置点的色坐标以及每张测试图片中每个位置点在多通道相机的每个光谱通道下的光强度值,得到每张测试图片中每个位置点的色坐标。通过本发明,合理利用对待测显示面板进行Gamma校正得到的产物,实现了对待测显示面板的色坐标进行测量,无需增加额外设备直接对待测显示面板的色坐标进行测量。
搜索关键词: 基于 gamma 校正 坐标 测量方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010566996.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top