[发明专利]基于Gamma校正的色坐标测量方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 202010566996.8 | 申请日: | 2020-06-19 |
公开(公告)号: | CN111458112B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 洪志坤;张胜森;欧昌东;郑增强 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01J3/46 |
代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 张凯 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种基于Gamma校正的色坐标测量方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:获取基于Gamma校正得到的待测显示面板分别显示N张测试图片时,每张测试图片的目标位置点的色坐标,N为大于或等于3的正整数;获取每张测试图片中每个位置点在多通道相机的每个光谱通道下的光强度值;根据每张测试图片的目标位置点的色坐标以及每张测试图片中每个位置点在多通道相机的每个光谱通道下的光强度值,得到每张测试图片中每个位置点的色坐标。通过本发明,合理利用对待测显示面板进行Gamma校正得到的产物,实现了对待测显示面板的色坐标进行测量,无需增加额外设备直接对待测显示面板的色坐标进行测量。 | ||
搜索关键词: | 基于 gamma 校正 坐标 测量方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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