[发明专利]一种测定单晶石墨烯取向的方法有效
| 申请号： | 202010565157.4 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111624219B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 欧阳奕;汪伟;刘兆平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 主分类号： | G01N23/2251 | 分类号： | G01N23/2251;G01N23/2206;G01N23/2202;G01N23/203;C23C16/26 |
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| 地址： | 315201 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测定单晶石墨烯取向的方法。本发明通过电子显微镜中的电子背散射衍射探头得到了铜衬底的取向，进而得到铜的原子排列，通过与所生长的形状规则的石墨烯的取向进行对比，从而确定了石墨烯在铜衬底上的取向。通过该方法来确定石墨烯的取向对样品的制备难度小，且准确度高，能够更好地确定石墨烯的取向，为大面积制备高品质的单晶石墨烯提供帮助，促进石墨烯在电学等方面的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 晶石 取向 方法 | ||
【主权项】：
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