[发明专利]光探测磁共振谱仪的光路自动调节方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010543017.7 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN113805128A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 方源;许克标;王先盛;贺羽 申请(专利权)人: 国仪量子(合肥)技术有限公司
主分类号: G01R33/32 分类号: G01R33/32;G02B26/02
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 白雪静
地址: 230000 安徽省合肥市高新区*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种光探测磁共振谱仪的光路自动调节方法及装置,光探测磁共振谱仪包括凸透镜,凸透镜安装在位移台上,位移台包括相互垂直的x轴、y轴和z轴,其中,方法包括:分别获取x轴、y轴和y轴不同坐标对应的荧光强度;根据x轴、y轴和y轴不同坐标对应的荧光强度,得到第一曲线、第二曲线和第三曲线;分别对第一曲线、第二曲线和第三曲线进行拟合,得到第一中心峰的位置、第二中心峰的位置和第三中心峰的位置;根据第一中心峰的位置、第二中心峰的位置和第三中心峰的位置,确定位移台的位置,以对光路进行调节。该方法实现了光路的自动化调节,能够保证荧光的高收集效率,结构简洁、自动化调节、精度高、稳定、耗时短。
搜索关键词: 探测 磁共振 自动 调节 方法 装置
【主权项】:
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