[发明专利]一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法

摘要

本发明提供一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法，其能够根据物体的颜色信息区分图像中镜面反射区域和漫反射区域并标记出图像中的高光区域，根据反射分离理论对高光区域进行去高光处理。根据图像的纹理信息对去除高光后的图像进行修复。本发明能够解决实际生活中拍摄照片出现的高光问题，并且还原出去除高光的场景。与传统的方法相比，该方法不需要拍摄大量的图片，大大提高了图像处理的效率。实验表明本方法还可运用与结构光三维测量方法。