[发明专利]一种用于检测IGBT过压击穿特性的电路及方法有效
申请号: | 202010527317.6 | 申请日: | 2020-06-11 |
公开(公告)号: | CN111736053B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 张经纬;谭国俊;杜祥威 | 申请(专利权)人: | 江苏国传电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/14;G01R31/12 |
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地址: | 221116 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于检测IGBT过压击穿特性的电路及方法,该电路包括:母线直流电源,固态断路器,储能电容,升压电力电子开关,双脉冲测试电路;本发明采用双脉冲测试方法,能够实现IGBT在关断瞬态过高电压尖峰以及关断稳态时耐压过高引起的雪崩击穿;通过设置升压电力电子开关能够快速切换IGBT耐受电压,精确控制IGBT在关断稳态时耐受过高电压的时间;此外由于过长的雪崩击穿容易造成过流故障,本发明通过设置固态断路器,防止IGBT发生永久击穿时,因能量集聚引发严重的炸管现象。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 igbt 击穿 特性 电路 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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