[发明专利]统计延时分析方法与系统有效
| 申请号： | 202010515695.2 | 申请日： | 2020-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN111650496B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种统计延时分析方法与系统，该统计延时分析方法包括采用蒙特卡洛方法确定随机分布的工艺波动相关的参数取值；通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时；根据蒙特卡洛采样点参数取值下路径延时检查路径时序是否正确。本发明通过减少采样点数和参数化延时模型替代电路仿真提高统计时序分析速度；通过器件的实际工作温度和电压获得电路单元的延时提高统计时序分析精度；通过精确获得器件的老化状态以精确获得电路单元实际老化状态下的延时从而提高统计时序分析精度。 | ||
| 搜索关键词： | 统计 延时 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010515695.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
