[发明专利]材料激光吸收率测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010475614.0 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN111595783B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 王浩伟;贾浩琳;王洪泽;吴一;廉清;孙华 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种材料激光吸收率测量系统及方法,包括:激光发射装置、激光聚集装置、扫描装置、量热装置、粉末台、平场聚焦镜、第一振镜、第二振镜、实验腔室、调压阀和控制系统;激光发射装置发射出的激光通过激光聚集装置使激光束聚焦,聚焦后的激光经扫描装置和平场聚焦镜实现激光在粉末台区域范围内的动态扫描;粉末台与量热装置连接,实时监测激光扫描样品所产生的温度变化。本发明实现了不同波长、不同激光功率范围内以及不同离焦量大小的激光吸收率测量;实现了不同视场的扫描;实现了激光移动平台与量热平台的集成,可以实时测量材料的激光吸收率。
搜索关键词: 材料 激光 吸收率 测量 系统 方法
【主权项】:
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