[发明专利]一种深度测量装置、方法及电子设备有效
申请号: | 202010445251.6 | 申请日: | 2020-05-24 |
公开(公告)号: | CN111708039B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 杨鹏;王兆民 | 申请(专利权)人: | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/48 | 分类号: | G01S17/48;G01B11/22 |
代理公司: | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人: | 田志立 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种深度测量装置、方法及电子设备,包括光发射模组、成像模组、以及控制与处理器;光发射模组用于发射光束;成像模组用于采集经目标物体反射回的反射光束并生成相应的电信号,还用于采集目标物体的第一图像和第二图像;控制与处理器分别与光发射模组及成像模组连接,用于控制光发射模组发射光束,以及触发成像模组开启并接收所述电信号、第一图像、以及第二图像,并计算以获取目标物体的一个或多个TOF深度值,及进行双目深度计算以获得相对深度值,并基于该相对深度值从TOF深度值中确定实际深度值。通过采用对第一图像和第二图像进行双目深度计算以获取相对深度值,并基于该相对深度值辅助ToF解卷绕,从而提升了深度图的精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 深度 测量 装置 方法 电子设备 | ||
【主权项】:
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