[发明专利]机床对象物的位置计测方法及位置计测系统在审
申请号: | 202010435134.1 | 申请日: | 2020-05-21 |
公开(公告)号: | CN112008496A | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 神户礼士 | 申请(专利权)人: | 大隈株式会社 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 崔成哲;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供机床对象物的位置计测方法及位置计测系统。即使在实施校准后探头相对于主轴的状态发生变化,也能够在根据计测内容而抑制了误差的状态下计测机床的机内对象物的位置。一种通过探头(7)对固定在工作台(3)上的对象物的位置进行计测的方法,包括:修正值取得步骤(S1),预先在主轴(6)的旋转角度相差180°的两个方向上取得探头(7)的径向上的接触位置的修正值;主轴旋转角度判定步骤(S3、S5),根据计测内容对主轴6与对象物的计测面接触时的旋转角度进行判定;运算步骤(S8),按照在主轴旋转角度判定步骤(S3、S5)中判定出的主轴(6)的旋转角度,根据探头(7)的与计测面接触时的位置和修正值,计算对象物的位置的计测值。 | ||
搜索关键词: | 机床 对象 位置 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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