[发明专利]测定装置、图像形成装置及测定方法在审

专利信息
申请号: 202010429551.5 申请日: 2020-05-20
公开(公告)号: CN111998781A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 尾上太郎 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/14;G01B11/24;G03G15/00;G03G15/02
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 日本国东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请提供对2个测定对象物的间隙进行测定的测定装置、图像形成装置及测定方法。对第1测定对象物与第2测定对象物的间隙进行测定的测定装置(40)具备:表面形状计算部(412),基于从向第1测定对象物照射激光的第1线传感器取得的第1测定数据,计算第1测定对象物的表面形状,基于从向第2测定对象物照射激光的第2线传感器取得的第2测定数据,计算第2测定对象物的表面形状;变换部(414),对第1线传感器的第1坐标系及第2线传感器的第2坐标系中的至少1个进行变换,使坐标系统一;以及间隙计算部(415),在统一后的坐标系中,计算第1测定对象物与第2测定对象物的间隙。
搜索关键词: 测定 装置 图像 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
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