[发明专利]测定装置、图像形成装置及测定方法

权利要求书

1.一种测定装置，对第1测定对象物与第2测定对象物的间隙进行测定，其特征在于，具备：

表面形状计算部，基于从向所述第1测定对象物照射激光的第1线传感器取得的第1测定数据，计算所述第1测定对象物的表面形状，并基于从向所述第2测定对象物照射激光的第2线传感器取得的第2测定数据，计算所述第2测定对象物的表面形状；

变换部，对所述第1线传感器的第1坐标系及所述第2线传感器的第2坐标系中的至少1个进行变换，使坐标系统一；以及

间隙计算部，在所述统一后的坐标系中，计算所述第1测定对象物与所述第2测定对象物的间隙。

2.如权利要求1所述的测定装置，其特征在于，

所述第1测定数据是表示被从所述第1线传感器照射了带状的所述激光的、所述第1测定对象物的表面部分的形状的2维坐标的数据，

所述第2测定数据是表示被从所述第2线传感器照射了带状的所述激光的、所述第2测定对象物的表面部分的形状的2维坐标的数据。

3.如权利要求1或者权利要求2所述的测定装置，其特征在于，

使用将所述第1线传感器及所述第2线传感器以能够移动的方式保持的装配用夹具，所述表面形状计算部多次计算所述第1测定对象物的表面形状，多次计算所述第2测定对象物的表面形状。

4.如权利要求1至权利要求3中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述第1测定对象物具有圆筒表面形状，所述第2测定对象物具有圆筒表面形状。

5.如权利要求4所述的测定装置，其特征在于，还具备：

拟合部，针对所述第1测定对象物所具有的圆筒表面形状，通过基于非线性最小二乘法的拟合来计算第1圆截面，针对所述第2测定对象物所具有的圆筒表面形状，通过基于所述非线性最小二乘法的拟合来计算第2圆截面。

6.如权利要求5所述的测定装置，其特征在于，

所述变换部使用事先测定的所述第1线传感器的第1坐标系与所述第2线传感器的第2坐标系的相对的位置关系，将所述第1圆截面及所述第2圆截面配置于所述统一后的坐标系。

7.如权利要求6所述的测定装置，其特征在于，

所述间隙计算部从所述第1圆截面的中心与所述第2圆截面的中心间距离减去所述第1圆截面的第1半径及所述第2圆截面的第2半径，来计算所述第1测定对象物与所述第2测定对象物的间隙。

8.如权利要求7所述的测定装置，其特征在于，

所述第1半径及所述第2半径是已知的，

所述拟合部使用所述第1半径及所述第2半径，进行基于所述非线性最小二乘法的拟合。

9.如权利要求1至权利要求8中任一项所述的测定装置，其特征在于，

所述第1测定对象物是用于图像形成装置的第1显影辊，所述第2测定对象物是用于所述图像形成装置的感光体。

10.如权利要求9所述的测定装置，其特征在于，

作为第3测定对象物，是用于所述图像形成装置的第2显影辊，

不仅使用向作为所述第1测定对象物的所述第1显影辊照射激光的所述第1线传感器、以及向作为所述第2测定对象物的所述感光体照射激光的所述第2线传感器，还使用向作为所述第2测定对象物的所述感光体照射激光的第3线传感器、以及向作为所述第3测定对象物的所述第2显影辊照射激光的第4线传感器，对所述感光体与所述第1显影辊的间隙及所述感光体与所述第2显影辊的间隙进行测定。

11.一种图像形成装置，

通过权利要求10所述的测定装置，所述感光体与所述第1显影辊的间隙及所述感光体与所述第2显影辊的间隙被测定并调整。