[发明专利]测定装置、图像形成装置及测定方法在审

专利信息
申请号: 202010429551.5 申请日: 2020-05-20
公开(公告)号: CN111998781A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 尾上太郎 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/14;G01B11/24;G03G15/00;G03G15/02
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 日本国东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测定 装置 图像 形成 方法
【说明书】:

本申请提供对2个测定对象物的间隙进行测定的测定装置、图像形成装置及测定方法。对第1测定对象物与第2测定对象物的间隙进行测定的测定装置(40)具备:表面形状计算部(412),基于从向第1测定对象物照射激光的第1线传感器取得的第1测定数据,计算第1测定对象物的表面形状,基于从向第2测定对象物照射激光的第2线传感器取得的第2测定数据,计算第2测定对象物的表面形状;变换部(414),对第1线传感器的第1坐标系及第2线传感器的第2坐标系中的至少1个进行变换,使坐标系统一;以及间隙计算部(415),在统一后的坐标系中,计算第1测定对象物与第2测定对象物的间隙。

技术领域

本发明涉及测定装置、图像形成装置及测定方法。

背景技术

专利文献1中公开了:“一种间隙间隔测定方法,将照明手段配置于测定对象间隙的单侧,由所述照明手段经过所述测定对象间隙对扩散面进行照明,并由受光手段对间隙的轮廓像进行摄像,来测定所述测定对象间隙的间隙间隔”。

另外,在专利文献2中公开了:“一种显影装置,具备:显影辊,与像承载体对置地配置,向所述像承载体供给调色剂;磁性辊,与所述显影辊对置地配置,向所述显影辊供给调色剂;框体,将所述显影辊与所述磁性辊隔着间隙地保持;以及反射部,设置于所述框体,用于对所述显影辊与所述磁性辊的间隙进行测定。

在先技术文献

专利文献

[专利文献1]日本特开平5-340723号公报(权利要求1)

[专利文献2]日本特开2007-322566号公报(权利要求1)

发明内容

发明所要解决的课题

在电子照相方式的图像形成装置中,通过对被充电的感光体进行曝光来形成静电潜像,向感光体上的静电潜像通过显影辊供给调色剂并显影,形成调色剂图像。在图像形成装置的内部配置的感光体与显影辊的间隙是与显影浓度直接相关的参数。因此,要求针对感光体与显影辊的间隙进行高精度的测定和调整(±30μm),需要精密地测定该间隙的装置。

如图13所示,在以往的间隙测定方法中,照射装置100-1将具有一定宽度的激光L1向感光体50与显影辊60之间照射,受光装置100-2接受在感光体50与显影辊60之间经过的激光L2并测定光的宽度Ds。结果,对感光体50与显影辊60的间隙作为Ds进行了测定。

另外,近年来,正在开发针对1个感光体组装2根显影辊的图像形成装置。针对这样的图像形成装置,也需要对感光体与显影辊的间隙精密地测定的装置。但是,如图14所示,即使针对感光体50及被组装于感光体50的2根显影辊70、80,要通过以往的间隙测定方法对感光体50与显影辊70的间隙Ds进行测定,照射装置100-1所照射的激光L1也被显影辊80切断。因此,存在如下问题:受光装置100-2无法接受激光,无法测定间隙Ds。感光体50和显影辊70、80具有圆筒表面形状,但这样的问题在对呈任意的表面形状的2个测定对象物的间隙进行测定的情况下都会发生。

鉴于上述缘由,在本发明中,其目的在于对2个测定对象物的间隙进行测定。

用于解决课题的手段

本发明的上述的目的通过下述的手段达成。

(1):一种测定装置,对第1测定对象物与第2测定对象物的间隙进行测定,其特征在于,具备:表面形状计算部,基于从向所述第1测定对象物照射激光的第1线传感器取得的第1测定数据计算所述第1测定对象物的表面形状,基于从向所述第2测定对象物照射激光的第2线传感器取得的第2测定数据计算所述第2测定对象物的表面形状;变换部,对所述第1线传感器的第1坐标系及所述第2线传感器的第2坐标系中的至少1个进行变换,使坐标系统一;以及间隙计算部,在所述统一后的坐标系中,计算所述第1测定对象物与所述第2测定对象物的间隙。

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