[发明专利]一种芯片测试方法和装置有效
| 申请号： | 202010419859.1 | 申请日： | 2020-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN111693847B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 刘蕊丽;李紫金 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张建秀;龙洪 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片测试方法和装置。所述方法包括：在检测到对芯片进行晶圆CP测试后，获取所述芯片用于输出测试向量的返回结果的输入输出IO端口的输出时延信息；控制所述输出时延的数值减小；按照减小后的输出时延，输出所述测试向量的返回结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大唐微电子技术有限公司，未经大唐微电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010419859.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
