[发明专利]芯片的调试方法、芯片的调试装置、存储介质和处理器在审
| 申请号： | 202010318635.1 | 申请日： | 2020-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN111428691A | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 郭春成 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模（苏州）半导体有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 霍文娟 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片的调试方法、芯片的调试装置、存储介质、处理器和电子设备，该芯片的调试方法包括：对芯片的调试信号进行采样，记录调试信号的多个状态值；根据多个状态值生成调试信号的波形图；根据波形图对芯片进行调试。上述调试方法对调试信号进行采样，根据采样得到的状态值数据生成波形图，再根据波形图进行调试以实现对芯片问题的分析和定位，相比于现有技术中采用飞线进行问题的分析和定位，该方法无需断电导致芯片的工作环境发生改变，从而降低了芯片调试的难度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 调试 方法 装置 存储 介质 处理器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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