[发明专利]一种TOF深度测量装置、方法及电子设备在审
| 申请号： | 202010311680.4 | 申请日： | 2020-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN111458717A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王兆民;许星 | 申请（专利权）人： | 深圳奥比中光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S17/894;G01S7/481;G01S7/484 |
| 代理公司： | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人： | 田志立 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种TOF深度测量装置，包括：发射模组、采集模组以及控制与处理器；其中发射模组用于发射光束，其包括有光源以及光束扫描器，通过光束扫描器偏转光源发出的光束以照射目标物体的给定区域；采集模组用于采集经目标物体反射回的光束，其包括有由像素阵列组成的图像传感器；控制与处理器用于控制所述光束扫描器偏转所述光束以照射所述目标物体的给定区域，并根据偏转后形成的光束激活所述图像传感器中相应区域的像素，以响应由所述给定区域反射回的光束而累积的光电荷，基于该光电荷计算相位差以获得所述目标物体的距离并输出所述目标物体的深度图像。本发明TOF深度测量装置可提升图像信噪比的同时提高图像的分辨率且降低功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tof 深度 测量 装置 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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