[发明专利]一种用于抛磨光的金属及矿物薄片试样的固定方法在审
| 申请号： | 202010281637.8 | 申请日： | 2020-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN111257092A | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 杨斌;赵晋阳;徐宝强;刘大春;杨红卫;陈秀敏;郁青春;王飞;戴永年;杨佳;吴鉴;蒋文龙;李一夫;田阳;熊恒;曲涛;任学根 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01N1/32 | 分类号： | G01N1/32;G01N1/34;G01N1/30;G01N1/28 |
| 代理公司： | 昆明同聚专利代理有限公司 53214 | 代理人： | 谢丹丹 |
| 地址： | 650093 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于抛磨光的金属及矿物薄片试样的固定方法，本发明通过将薄片试样粘贴在胶带上，然后将胶带粘贴在基板上，将载有薄片试样的基板置于抛磨机上对试样进行抛磨光或手持基板对试样进行抛磨光，然后再对试样进行金相检测，本发明解决了由于金属薄片试样尺寸过小，无法直接依靠夹具或手持进行抛光、磨光处理的问题，使用胶带隔离了胶水与人体的直接接触，避免了胶水对人体的伤害，且还避免了胶水与基板粘贴过紧不易分离的问题，本发明方法对薄片试样无污染，不影响薄片试样的金相检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 磨光 金属 矿物 薄片 试样 固定 方法 | ||
【主权项】：
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