[发明专利]双向扫描的拼接错位补偿方法和无掩膜光刻设备有效
申请号: | 202010260623.8 | 申请日: | 2020-04-03 |
公开(公告)号: | CN111552151B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 卞洪飞;董帅;徐晚晴 | 申请(专利权)人: | 合肥芯碁微电子装备股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人: | 贾玉姣 |
地址: | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出了一种基于双向扫描的拼接错位补偿方法和无掩膜光刻设备,该拼接方法包括:获取扫描速度;根据扫描速度和扫描延时时间计算正向扫描延时距离和反向扫描延时距离;根据正向扫描延时距离调整正向扫描理论起始点坐标;根据反向扫描延时距离调整反向扫描理论起始点坐标;根据正向扫描起始点坐标获得正向扫描曝光数据,以及根据反向扫描起始点坐标获得反向扫描曝光数据;将正向扫描曝光数据和反向扫描曝光数据进行拼接。根据本发明实施例的基于双向扫描的拼接错位补偿方法,通过补偿正向扫描起始点坐标和反向扫描起始点坐标,解决不同速度扫描过程中的拼接错位问题。 | ||
搜索关键词: | 双向 扫描 拼接 错位 补偿 方法 无掩膜 光刻 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥芯碁微电子装备股份有限公司,未经合肥芯碁微电子装备股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010260623.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。