[发明专利]一种芯片测试电路、方法及芯片有效
| 申请号： | 202010236567.4 | 申请日： | 2020-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN111426944B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 罗浚洲;严波;王悦;王铁军;李维森 | 申请（专利权）人： | 普源精电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 215163 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种芯片测试电路、方法及芯片。该芯片测试电路包括待测模块、至少一个开关单元和至少一个芯片管脚；待测模块包括第一信号端，每个开关单元包括开关单元第一端和开关单元第二端，第一信号端与开关单元第一端电连接，开关单元第二端与芯片管脚电连接；其中，第一信号端用于输出若干信号，若干信号在同一属性下的参数值至少不完全相同，开关单元用于匹配传输若干信号至芯片管脚。本发明实施例提供的技术方案可减少芯片管脚数量，同时，确保信号的传输路径的特性与信号相匹配，提高信号传输效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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