[发明专利]一种微发光二极管显示器生产检测方法及其显示器在审
| 申请号： | 202010214771.6 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113450681A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 安金鑫;林子平;李刘中;张雪;肖守均 | 申请（专利权）人： | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 李发兵 |
| 地址： | 402760 重庆市璧*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，具体涉及一种微发光二极管显示器生产检测方法及其显示器，其包括：提供一显示背板，并在显示背板上设置上的金属焊盘组件；在金属焊盘组件的表面上设置导电胶；将微发光二极管芯片转移至金属焊盘组件上方，使微发光二极管芯片下端的金属垫与金属焊盘组件的表面通过导电胶进行临时固定；对微发光二极管芯片进行电性测量，判断是否存在不良芯片；若存在不良芯片，则将不良芯片从显示背板上取出并进行替换；本发明的微发光二极管显示器生产检测方法极大地降低了对微型发光微发光二极管芯片进行替换的复杂程度，极大地提高了显示器的生产效率，为显示屏的快速量产带来了保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 显示器 生产 检测 方法 及其 | ||
【主权项】：
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