[发明专利]芯片外观不良识别设备和方法以及芯片测试系统和方法有效
| 申请号： | 202010210457.0 | 申请日： | 2020-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN111323432B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 郑挺;钟峰;唐绪伟;崔剑波;郑朝生;袁俊;肖思文;辜诗涛;张亦锋;魏强;卢旭坤;容成昌 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;刘光明 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片外观不良识别设备和方法以及芯片测试系统和方法，其中芯片外观不良识别设备包括第一控制装置、扫描器、打码装置、第一扫码装置以及视觉扫描装置，扫描器用于将芯片板的产品信息导入第一控制装置；打码装置用于根据产品信息在芯片板上打上识别码；第一扫码装置用于识别芯片板上的识别码信息并传送至第一控制装置；视觉扫描装置用于获取芯片板上的若干芯片的图像并传送至第一控制装置；第一控制装置根据芯片板上的若干芯片的图像识别出外观不良芯片并建立芯片板的MAP图以及MAP图和识别码信息的对应关系，MAP图包含有外观不良芯片的坐标信息。本发明可使得在电性性能测试时不会对外观不良芯片进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 外观 不良 识别 设备 方法 以及 测试 系统 | ||
【主权项】：
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