[发明专利]电流检测电路、半导体器件和半导体系统在审
申请号: | 202010191695.1 | 申请日: | 2020-03-18 |
公开(公告)号: | CN111740729A | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 木村圭助;田岛英幸;斋藤航 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H03K17/16 | 分类号: | H03K17/16;G01R19/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开的实施例涉及电流检测电路、半导体器件以及半导体系统,其适用于改进电流感测准确度。根据一个实施例,电流检测电路12包括:感测晶体管Tr11,与流过驱动晶体管MN1的电流成比例的第一感测电流流过感测晶体管Tr11;运算放大器AMP1,用于将外部输出端子OUT的电压与用于输出第一感测电流的感测晶体管Tr11的源极电压的电势差放大;与感测晶体管Tr11串联提供的晶体管Tr12,并且运算放大器AMP1的输出电压施加到晶体管Tr12的栅极;以及开关SW3,被提供在外部输出端子OUT与感测晶体管Tr11的源极之间,开关SW3在驱动晶体管MN1关断时接通。 | ||
搜索关键词: | 电流 检测 电路 半导体器件 半导体 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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