[发明专利]X射线分析装置在审
| 申请号： | 202010190202.2 | 申请日： | 2020-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN111735828A | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 刑部刚;小泽哲也;尾本和树 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01N23/201;G01N23/207 |
| 代理公司： | 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 | 代理人： | 刘昕;孟祥海 |
| 地址： | 日本国东京都昭*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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