[发明专利]一种基于红外热成像的缺陷检测方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 202010189574.3 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN113406145A 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 马宏 申请(专利权)人: 觉芯电子(无锡)有限公司
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 214000 江苏省无锡市滨湖区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于红外热成像的缺陷检测方法、装置及系统,所述方法包括:向待测件发射第一方向激光束;获取所述待测件表面的热成像信息,生成第一数据;向所述待测件发射第二方向激光束,所述第二方向与所述第一方向相交;获取得到待测件表面的热成像信息,生成第二数据;根据所述第一数据和所述第二数据,获取所述待测件表面的缺陷信息,激光先后从两个或者多个不同角度对待测件进行激励,克服了从单一角度照射时某些方向的裂纹缺陷对比度低的缺点,提高了信噪比,使漏检率显著降低,满足工业生产线上大批量零件的检测需求,实现微米级高精度和高效率检测,配合相应的自动化分拣装置,可方便地实现生产线上的自动化检测和筛选。
搜索关键词: 一种 基于 红外 成像 缺陷 检测 方法 装置 系统
【主权项】:
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