[发明专利]一种晶粒高定向取向的钌溅射靶材及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010186065.5 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN111270210B 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 闻明;张仁耀;管伟明;郭俊梅;谭志龙;王传军;沈月;许彦婷;毕珺;普志辉 申请(专利权)人: 贵研铂业股份有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;B22F3/105;B22F3/14;C23C14/35
代理公司: 昆明知道专利事务所(特殊普通合伙企业) 53116 代理人: 姜开侠;姜开远
地址: 650000 云南省昆明市*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种晶粒高定向取向的钌溅射靶材及其制备方法,钌溅射靶材呈现(002)晶面高定向取向,致密度不低于99.5%,晶粒尺寸1‑10μm,氧含量100 ppm以内;所述(002)晶面与(101)晶面积分强度比不低于3。所述制备方法包括以下步骤:选择4N及以上纯度,粒度为1‑10μm的钌粉;随后将粉末进行冷压成型;再将冷压成型的锭坯进行低温微波烧结;再将锭坯进行低温真空热压烧结进一步提高致密度;最后机加工获得靶材。本发明采用较低的烧结温度、低温真空热压技术及充氢气形成还原气氛,使得钌溅射靶材性能优异,高致密度和(002)晶面高定向取向有助于获得高溅射速率、厚度均匀的钌薄膜,制备工艺简便,条件温和易于操控,而且可大大提高生产效率,极大地节约制备成本。
搜索关键词: 一种 晶粒 定向 取向 溅射 及其 制备 方法
【主权项】:
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