[发明专利]集成电路产品测试方法有效
| 申请号： | 202010185424.5 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111359910B | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 吴晨;柏艳 | 申请（专利权）人： | 苏州日月新半导体有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 215021 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及集成电路产品测试方法。具体而言，本申请提供一种集成电路产品测试方法，其包含：将若干集成电路产品提供至测试工位；在所述测试工位上对所述若干集成电路产品执行电性测试；在所述测试工位上对所述若干集成电路产品中通过所述电性测试的集成电路产品执行在线品保测试；以及在所述测试工位上对通过所述若干集成电路产品中通过所述电性测试及所述在线品保测试的集成电路产品进行抽样。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 产品 测试 方法 | ||
【主权项】：
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