[发明专利]一种双探针的纳米测量仪器在审
| 申请号： | 202010177815.2 | 申请日： | 2020-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN111238373A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 苏全民;陈庚亮 | 申请（专利权）人： | 深圳明锐仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 | 代理人： | 戴丽伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双探针的纳米测量仪器，包括测量器主体；所述测量器主体的前端设有第一探针、第二探针；所述第一探针用于探测外部环境干扰下的被测物体的信号；所述第二探针用于探测被测物体的附近环境的干扰信号；本发明的有益效果在于：本设计采用了双探针，一个探针探测外部环境干扰下的被测物体的信号，另一个探测被测物体的附近环境的干扰信号，通过计算出两个信号数值，最后两个数值相减，得到的数值就是被测物体的数值；让纳米测量系统省去了传统的封闭坏镜设备，且能够测量大型的被测物体。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 纳米 测量 仪器 | ||
【主权项】：
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