[发明专利]基于随机深度残差网络的高光谱图像分类方法有效

专利信息
申请号: 202010169109.3 申请日: 2020-03-12
公开(公告)号: CN111353463B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 高正;同磊;邓米克;禹晶;肖创柏 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G06V20/10 分类号: G06V20/10;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/08
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了基于随机深度残差网络的高光谱图像分类方法,本发明实现步骤如下:步骤一、首先对数据进行预处理。步骤二、模型构建,主要由两部分组成,光谱特征提取与空间信息特征提取。步骤三、模型训练。步骤四、高光谱图像分类。将数据输入网络,进行类别的预测,得到分类的高光谱图像。步骤五、输出分类图像;本发明充分利用了高光谱图像的空谱特征和光谱特征,提高了分类精度,并且在残差网络的基础上应用了随机深度,相较于传统的残差网络极大的缩减了训练时间与测试时间。
搜索关键词: 基于 随机 深度 网络 光谱 图像 分类 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010169109.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top