[发明专利]位置标定方法和位置标定装置有效
| 申请号： | 202010145459.6 | 申请日： | 2020-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN111207671B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 杨朝兴 | 申请（专利权）人： | 合肥御微半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种位置标定方法，包括获取成像系统的焦点坐标，高度传感器沿至少两个方向对所述第二标记区域分别进行至少两次高度扫描，获取每条扫描路径在所述第二标记区域内的中点坐标，获取同一方向上扫描路径中点的连线与其他同一方向上扫描路径中点的连线的交点坐标，根据所述焦点坐标、所述交点坐标以及偏移坐标，计算所述成像系统和所述高度传感器之间的相对位置坐标，无需显微镜等，降低了系统的复杂度，交点坐标的计算与第二标记区域的真实边缘相关，包含了对中心位置的算法补偿与偏移，所述交点坐标为真实位置，精确度高。本发明还提供了一种用于实现所述位置标定方法的位置标定装置。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 标定 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥御微半导体技术有限公司，未经合肥御微半导体技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010145459.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
