[发明专利]一种稀疏两相流中颗粒局部结构的测量方法有效
| 申请号： | 202010132167.9 | 申请日： | 2020-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN111307669B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 孔平;王蓬;李然 | 申请（专利权）人： | 上海健康医学院 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N21/84;G06V10/44;G06V10/56;G06K9/62;G06T7/00;G06T7/62 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 叶敏华 |
| 地址： | 201318 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种稀疏两相流中颗粒局部结构的测量方法，包括：获取流化颗粒图像；对背景去噪和二值化处理后的流化颗粒图像进行特征提取和筛选，得到每一个颗粒上白色光点的像素值；对每一个颗粒进行定位，确定每一个颗粒在直角坐标系下的坐标值；根据每一个颗粒的坐标值，构建对应的颗粒系统的Voronoi图，并计算每一个颗粒的局部体积分数；构建包含七个拓扑结构的接触模型；确定每一个颗粒的键取向序参数Q |
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| 搜索关键词： | 一种 稀疏 两相 颗粒 局部 结构 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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