[发明专利]缺陷分层检测装置及方法在审
| 申请号： | 202010127269.1 | 申请日： | 2020-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN111272777A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 赵斌;侯小华;杨洋;吴蕊彤;麦楚贰 | 申请（专利权）人： | 合肥市商巨智能装备有限公司;深圳商巨智能设备股份有限公司;深圳市商巨视觉技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;G01N21/94;G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230012 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了缺陷分层检测装置及方法，该方法是采用相机组件在短波紫外线光源下拍摄检测对象的上、下面缺陷图像，并将上、下面缺陷图像分别与相机组件在自然光源下拍摄的检测对象的缺陷图像进行对比，判断检测对象的缺陷所在深度位置。本发明能够自动化区分液晶面板表面的缺陷和液晶面板内部的缺陷，实现表层灰尘过滤，提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 分层 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥市商巨智能装备有限公司;深圳商巨智能设备股份有限公司;深圳市商巨视觉技术有限公司，未经合肥市商巨智能装备有限公司;深圳商巨智能设备股份有限公司;深圳市商巨视觉技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010127269.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种面料软化设备
- 下一篇：一种取向硅钢连铸坯金相试样的制备方法
