[发明专利]连续激光加载下液晶波片相位特性的测量装置和方法有效
| 申请号： | 202010119030.X | 申请日： | 2020-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN111289225B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘晓凤;汪小双;李大伟;赵元安;胡国行;朱美萍;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种连续激光加载下液晶波片相位调制特性变化的测量装置及测量方法，装置由探测激光器、第一反射镜、平面玻璃分光板、连续激光器、第二反射镜、待测液晶波片、等腰三角楔形板、光束质量分析仪和计算机组成。该方法利用平面玻璃分光板将探测光束分为两束，利用一块等腰三角楔形板使得所述的两束光束偏折，实现两束光的空间干涉。本发明光路简单，对环境不敏感，可以提高相位测试精度，可以准确评估不同激光参数作用对液晶波片相位调制特性的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 连续 激光 加载 液晶 相位 特性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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