[发明专利]连续激光加载下液晶波片相位特性的测量装置和方法

权利要求书

1.利用连续激光加载下液晶波片相位调制特性变化的测量装置对液晶波片相位调制特性变化的测量方法，所述的连续激光加载下液晶波片相位调制特性变化的测量装置，由探测激光器(101)、第一反射镜(102)、平面玻璃分光板(103)、连续激光器(106)、第二反射镜(107)、待测液晶波片(108)、等腰三角楔形板(109)、光束质量分析仪(110)和计算机(111)组成；沿所述的探测激光器(101)的输出光方向放置所述的第一反射镜(102)，所述的平面玻璃分光板(103)放置于所述的第一反射镜(102)的反射光方向，所述的反射光经过所述的平面玻璃分光板(103)的前表面和后表面反射后被分成传输方向平行的第一光束(104)和第二光束(105)，在所述的第一光束(104)和第二光束(105)的传输方向依次放置所述的等腰三角楔形板(109)和所述的光束质量分析仪(110)，所述的等腰三角楔形板(109)的顶角与所述的第一光束(104)和第二光束(105)的传输方向相对，所述的光束质量分析仪(110)通过USB口与所述的计算机(111)相连；所述的待测液晶波片(108)放置在所述的等腰三角楔形板(109)之前的第一光束(104)的传输路径中，所述的连续激光器(106)输出的激光经第二反射镜(107)反射后入射到所述的待测液晶波片(108)；其特征在于该方法包括下列步骤：

1)打开探测激光器(101)，将所述的待测液晶波片(108)放置在所述的等腰三角楔形板(109)之前的第一光束(104)的传输路径中，左右移动所述的等腰三角楔形板(109)，使所述的第一光束(104)和第二光束(105)平行且对称地入射到所述的等腰三角楔形板(109)的两个侧腰上；

2)沿所述的等腰三角楔形板(109)对称轴方向移动所述的光束质量分析仪(110)，直到所述的计算机(111)采集到干涉图为止，此时光束质量分析仪(110)所在位置即为第一光束(104)和第二光束(105)空间相遇的位置；

3)所述的计算机(111)记录采集干涉图，并提取干涉图纵向中心位置像素强度值随水平横向像素位置的变化数据，获得干涉条纹周期宽度Λ；

4)打开所述的连续激光器(106)，调整第二反射镜(107)的倾斜及俯仰角度，使所述的连续激光器(106)输出的激光在所述的待测液晶波片(108)的辐照位置与第一光束(104)的辐照区域重合；

5)所述的计算机(111)记录采集到的干涉图，并提取干涉图纵向中心位置像素强度值随水平横向像素位置的变化数据；

6)将5)中获取的数据和3)获取的数据进行对比，获得条纹移动量Δ；

7)在连续激光加载下，所述的待测液晶波片(108)的相位变化Δφ按下列公式计算：Δφ＝2π(Δ/Λ)。