[发明专利]一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法有效
| 申请号： | 202010113732.7 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN111220283B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 陈晓义;段亚轩;李红光;王璞;李铭;达争尚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 董娜 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及相位恢复技术，提供了一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法，解决现有相位恢复技术需要复杂扫描过程以获得多个衍射强度，在扫描过程中引入的位移误差和光路倾斜，影响相位恢复收敛速度和精度的问题。其中装置包括调制系统、探测器及数据处理单元；调制系统用于加载n个调制相位，对待测光场进行调制，获得待测光场的n个衍射光强，n为大于等于4的整数；n个调制相位与待测光场不同频段的相位相适配；探测器用于接收调制后的n个衍射光强；数据处理单元包括存储器和处理器，存储器上存储有用于处理n个调制相位和n个衍射光强的计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现相位恢复方法计算待测光场复振幅。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相位 调制 光场复 振幅 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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