[发明专利]一种存储性能测试低延迟的方法和设备在审
| 申请号： | 202010108208.0 | 申请日： | 2020-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN111367731A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 李艳 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 宋薇薇 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储性能测试低延迟的方法和设备，该方法包括以下步骤：将IO测试的路径设置为存储性能测试的路径；将IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将IO测试项目比例设定为预设比例；响应于接收到IO测试的指令，在路径下根据IO测试项目执行IO测试并监控IO信息；响应于IO信息达到稳定状态，启动存储性能测试。通过使用本发明的方案，能够在不影响测试的IOPS的情况下来通过后台启动IO测试解决测试延迟过高导致的测试失败问题，提高存储测试性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 性能 测试 延迟 方法 设备 | ||
【主权项】：
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