[发明专利]一种存储性能测试低延迟的方法和设备

说明书

本发明提供了一种存储性能测试低延迟的方法和设备，该方法包括以下步骤：将IO测试的路径设置为存储性能测试的路径；将IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将IO测试项目比例设定为预设比例；响应于接收到IO测试的指令，在路径下根据IO测试项目执行IO测试并监控IO信息；响应于IO信息达到稳定状态，启动存储性能测试。通过使用本发明的方案，能够在不影响测试的IOPS的情况下来通过后台启动IO测试解决测试延迟过高导致的测试失败问题，提高存储测试性能。

技术领域

本领域涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种存储性能测试低延迟的方法和设备。

背景技术

存储性能测试是针对存储子系统在执行关键业务应用时的性能表现。这些应用主要以随机IO操作为特点，包括查询和更新操作。这一类应用的例子包括OLTP、数据库操作和邮件服务器运作等。由于中高端存储系统往往在用户的系统环境中担当关键业务应用的数据基础平台。

在存储性能测试中，测试能够成功通过的一个关键指标是测试延迟，我们使用的测试工具是首先设置一个IOPS(每秒进行读写(I/O)操作的次数)值，即存储系统每秒读写数据的次数来反应存储系统的性能，并运行这个IOPS值，在运行过程中所有的测试过程延迟必须小于30ms，测试才算成功，测试最终成绩就是预先设置的IOPS值。

在测试中如果存储越高端性能越好，测试的最终IOPS值就越高，在测试中设置的IOPS值就越高，当IOPS值很高时，会导致在测试过程中由于IOPS从零突然在短时间内(测试工具要求1分钟内IOPS增加到最大值)增加到其最大值，会造成IO读写突然增大，使系统延迟过高。从而不能保证整个测试过程中的延迟都小于30ms，而导致整个测试失。

使用的测试工具主要分为三个测试阶段：预填充、主测试和数据一致性测试三个阶段。主测试阶段有至少8小时的sustain测试阶段(sustain阶段测试100％IOPS)，和repeatability(sustain阶段测试25％IOPS)阶段，在这两个阶段测试之前系统是空负载的状态，从空负载阶段到sustain和repeatability阶段磁盘IOPS突然增加，测试将导致延迟突然增加到几千甚至上万毫秒最终导致测试失败。现有技术只能在IOPS从0到最大缓慢增加时不会突然增加高延迟，不能解决这两个阶段的启动过程高延迟现象。目前只有通过更换更高性能，读写速度更快的磁盘来解决此问题，现有技术可以通过更换更高性能的磁盘解决部分问题，但IOPS更高的情况下仍不能解决此问题，而且更高性能的磁盘意味着高成本。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种存储性能测试低延迟的方法和设备，通过使用本发明的方法，能够在不影响测试的IOPS的情况下来通过后台启动IO测试解决测试延迟过高导致的测试失败问题，提高存储测试性能。

基于上述目的，本发明的实施例的一个方面提供了一种存储性能测试低延迟的方法，包括以下步骤：

将IO测试的路径设置为存储性能测试的路径；

将IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将IO测试项目比例设定为预设比例；

响应于接收到IO测试的指令，在路径下根据IO测试项目执行IO测试并监控IO信息；

响应于IO信息达到稳定状态，启动存储性能测试。

根据本发明的一个实施例，预设阈值为20000。

根据本发明的一个实施例，IO测试项目包括随机读和随机写。

根据本发明的一个实施例，预设比例为随机读与随机写的比例为7比3。

根据本发明的一个实施例，响应于IO信息达到稳定状态包括：

响应于IO测试中IOPS从0增加到预设阈值，判断IO信息达到稳定状态。