[发明专利]一种存储性能测试低延迟的方法和设备在审
| 申请号： | 202010108208.0 | 申请日： | 2020-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN111367731A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 李艳 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 宋薇薇 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 存储 性能 测试 延迟 方法 设备 | ||
1.一种存储性能测试低延迟的方法，其特征在于，包括以下步骤：
将IO测试的路径设置为所述存储性能测试的路径；
将所述IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将所述IO测试项目比例设定为预设比例；
响应于接收到IO测试的指令，在所述路径下根据所述IO测试项目执行所述IO测试并监控IO信息；
响应于所述IO信息达到稳定状态，启动所述存储性能测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设阈值为20000。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述IO测试项目包括随机读和随机写。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设比例为所述随机读与所述随机写的比例为7比3。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，响应于所述IO信息达到稳定状态包括：
响应于所述IO测试中IOPS从0增加到所述预设阈值，判断所述IO信息达到稳定状态。
6.一种存储性能测试低延迟的设备，其特征在于，所述设备包括：
路径设置模块，所述路径设置模块配置为将IO测试的路径设置为所述存储性能测试的路径；
参数设置模块，所述参数设置模块配置为将所述IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将所述IO测试项目比例设定为预设比例；
IO测试模块，所述IO测试模块配置为响应于接收到IO测试的指令，在所述路径下根据所述IO测试项目执行所述IO测试并监控IO信息；
存储性能测试模块，所述存储性能测试模块配置为响应于所述IO信息达到稳定状态，启动所述存储性能测试。
7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述预设阈值为20000。
8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述IO测试项目包括随机读和随机写。
9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述预设比例为所述随机读与所述随机写的比例为7比3。
10.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述存储性能测试模块还配置为响应于所述IO测试中IOPS从0增加到所述预设阈值，判断所述IO信息达到稳定状态。
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